合金ICP光譜儀是專門(mén)針對(duì)不同行業(yè)（如環(huán)保行業(yè)）用戶的需求，為方便使用，提高工作效率而開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品。ICP光譜儀的鋁質(zhì)外殼緊湊牢固，而且便于更換所有部件。儀器體積小，重量輕，適合放置到任何實(shí)驗(yàn)臺(tái)上。
合金ICP光譜儀還有許多根據(jù)用戶的建議和實(shí)際經(jīng)驗(yàn)而改進(jìn)的地方。比如耐化學(xué)腐蝕的表面和便于維修更換部件的側(cè)面開(kāi)門(mén)等。該儀器配備*CCD光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)*可靠的RF發(fā)生器，簡(jiǎn)化了安裝和培訓(xùn)要求。按照EPA標(biāo)準(zhǔn)預(yù)先設(shè)置好分析方法，適合分析：金屬、水/廢水、土壤、泥污、濾渣等。儀器設(shè)備緊湊，占用面積小，樣品流程非常短，因此大大縮短了分析時(shí)間和沖洗時(shí)間。
在ICP光源中，光譜干擾是十分嚴(yán)重的干擾，光譜干擾主要分為兩類(lèi)：
一類(lèi)是譜線重疊干擾，是由于光譜儀色散率和分辨率的不足，使某些共存元素的譜線重疊在分析上的干擾；
另一類(lèi)是背景干擾，這類(lèi)干擾與基體成分及ICP光源本身所發(fā)射的強(qiáng)烈的雜散光的影響有關(guān)。
對(duì)于譜線重疊干擾，采用高分辨率的分光系統(tǒng)，決不是意味著可以*消除這類(lèi)光譜干擾，只能認(rèn)為當(dāng)光譜干擾產(chǎn)生時(shí)，它們可以減輕至小強(qiáng)度。因此，常用的方法是選擇另外一條干擾少的譜線作為分析線，或應(yīng)用干擾因子校正法(IEC)予以校正。對(duì)于背景干擾，有效辦法是利用現(xiàn)代儀器所具備的背景校正技術(shù)給予扣除。
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